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Agilent81624A光功率探頭Agilent81624A精度指標(biāo)安捷倫Agilent81624A光學(xué)頭是專為低PDL，低光譜紋波，*的損失和用于光學(xué)元件測(cè)試。它的工作原理與81618A和81619A，單和雙端口接口模塊。本單位有下列規(guī)格：波長(zhǎng)范圍：800-1700nm的光功率范圍：10dBm至-90dBm的傳感元件：InGaAsKeithley2400數(shù)字源表Keithley2500數(shù)字源表Keithley2502數(shù)字源表KEITHLEY6221電流源表Tektroni...

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Keysight81623B鍺光功率探頭Keysight81623B指標(biāo)參數(shù)主要特性與技術(shù)指標(biāo)關(guān)鍵性能技術(shù)指標(biāo)寬波長(zhǎng)范圍：750–1800nm經(jīng)濟(jì)型鍺檢測(cè)器：建議為850nm5mm直徑檢測(cè)器，用于光纖NA至0.3和開放光束特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±2.5%不確定性800–1000nm特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±1.7%不確定性1000–1650nm描述8162xB系列光功率探頭通過遠(yuǎn)程探內(nèi)的大面積檢測(cè)器提供的功率測(cè)量，可用于靈活定位。其功能包括從100µs到...

Keysight81623B鍺光功率探頭Keysight81623B操作說明主要特性與技術(shù)指標(biāo)關(guān)鍵性能技術(shù)指標(biāo)寬波長(zhǎng)范圍：750–1800nm經(jīng)濟(jì)型鍺檢測(cè)器：建議為850nm5mm直徑檢測(cè)器，用于光纖NA至0.3和開放光束特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±2.5%不確定性800–1000nm特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±1.7%不確定性1000–1650nm描述8162xB系列光功率探頭通過遠(yuǎn)程探內(nèi)的大面積檢測(cè)器提供的功率測(cè)量，可用于靈活定位。其功能包括從100µs到...

Keysight81623B鍺光功率探頭Keysight81623B說明書主要特性與技術(shù)指標(biāo)關(guān)鍵性能技術(shù)指標(biāo)寬波長(zhǎng)范圍：750–1800nm經(jīng)濟(jì)型鍺檢測(cè)器：建議為850nm5mm直徑檢測(cè)器，用于光纖NA至0.3和開放光束特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±2.5%不確定性800–1000nm特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±1.7%不確定性1000–1650nm描述8162xB系列光功率探頭通過遠(yuǎn)程探內(nèi)的大面積檢測(cè)器提供的功率測(cè)量，可用于靈活定位。其功能包括從100µs到1...

Keysight81623B鍺光功率探頭Keysight81623B選件配置主要特性與技術(shù)指標(biāo)關(guān)鍵性能技術(shù)指標(biāo)寬波長(zhǎng)范圍：750–1800nm經(jīng)濟(jì)型鍺檢測(cè)器：建議為850nm5mm直徑檢測(cè)器，用于光纖NA至0.3和開放光束特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±2.5%不確定性800–1000nm特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±1.7%不確定性1000–1650nm描述8162xB系列光功率探頭通過遠(yuǎn)程探內(nèi)的大面積檢測(cè)器提供的功率測(cè)量，可用于靈活定位。其功能包括從100µs到...

Keysight81623B鍺光功率探頭Keysight81623B二手價(jià)格主要特性與技術(shù)指標(biāo)關(guān)鍵性能技術(shù)指標(biāo)寬波長(zhǎng)范圍：750–1800nm經(jīng)濟(jì)型鍺檢測(cè)器：建議為850nm5mm直徑檢測(cè)器，用于光纖NA至0.3和開放光束特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±2.5%不確定性800–1000nm特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±1.7%不確定性1000–1650nm描述8162xB系列光功率探頭通過遠(yuǎn)程探內(nèi)的大面積檢測(cè)器提供的功率測(cè)量，可用于靈活定位。其功能包括從100µs到...

Keysight81623B鍺光功率探頭Keysight81623Busermanual主要特性與技術(shù)指標(biāo)關(guān)鍵性能技術(shù)指標(biāo)寬波長(zhǎng)范圍：750–1800nm經(jīng)濟(jì)型鍺檢測(cè)器：建議為850nm5mm直徑檢測(cè)器，用于光纖NA至0.3和開放光束特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±2.5%不確定性800–1000nm特殊校準(zhǔn)選項(xiàng)：±1.7%不確定性1000–1650nm描述8162xB系列光功率探頭通過遠(yuǎn)程探內(nèi)的大面積檢測(cè)器提供的功率測(cè)量，可用于靈活定位。其功能包括從100&mi...