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  • 致茂8020chroma 8020 配接器/充電器自動(dòng)測試系統(tǒng)
    chroma 8020 配接器/充電器自動(dòng)測試系統(tǒng)

    chroma 8020 配接器/充電器自動(dòng)測試系統(tǒng) 主要特色:可支持同時(shí)一次測多顆待測物,大幅提升生產(chǎn)線產(chǎn)能兼具Chroma 6000系統(tǒng)的測試效能,與8000系統(tǒng)靈活的硬件架構(gòu)針對(duì)配接器/充電器特性優(yōu)化的標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目,測試效能佳特別針對(duì)生產(chǎn)在線使用所需,軟件功能操作簡單彈性架構(gòu)軟件平臺(tái) - 測試程序編輯功能 - 測試報(bào)告格式編輯功能 - 測試報(bào)告產(chǎn)生器 - 統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表編輯功能 - 用戶權(quán)限設(shè)

    更新時(shí)間:2024-10-26訪問量:1422
  • 致茂8490chroma 8490 LCD 變流器自動(dòng)測試系統(tǒng)
    chroma 8490 LCD 變流器自動(dòng)測試系統(tǒng)

    chroma 8490 LCD 變流器自動(dòng)測試系統(tǒng) 主要特色:可量測變流器和 LIPS 機(jī)種可選擇標(biāo)準(zhǔn)與頂針氣動(dòng)治具所有輸出同步量測,大幅降低測試時(shí)間,比傳統(tǒng)測試快2-3倍,達(dá)到佳的成本效率比使用三種不同功能的PCI適配卡量測 :測量卡、控制卡、DMM卡,擁有的擴(kuò)充性,如須量測更多組數(shù)時(shí),增加PCI適配卡即可三種控制燈管亮度的方式:直流電壓、脈波寬度調(diào)變、SM Bus控制內(nèi)建時(shí)序測量功能提供參數(shù)

    更新時(shí)間:2024-10-26訪問量:925
  • 致茂8491chroma 8491 LED電源自動(dòng)測試系統(tǒng)
    chroma 8491 LED電源自動(dòng)測試系統(tǒng)

    chroma 8491 LED電源自動(dòng)測試系統(tǒng) 主要特色:專門使用于LED電源測試可支援同時(shí)一次測多顆待測物,大幅提升生產(chǎn)線產(chǎn)能針對(duì)LED電源特性提供適合的標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目,藉以達(dá)到佳的測試效能開放性架構(gòu)軟體平臺(tái) - 支援相關(guān)硬體擴(kuò)充 - 支援備配 GPIB/RS-232/RS-485/I2C 介面之儀器 - 測試項(xiàng)目編輯功能 - 測試程式編輯功能 - 測試報(bào)告編輯功能 - 統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表編輯功能

    更新時(shí)間:2024-10-26訪問量:1156
  • 致茂8700chroma 8700 電池模組功能性自動(dòng)測試系統(tǒng)
    chroma 8700 電池模組功能性自動(dòng)測試系統(tǒng)

    chroma 8700 電池模組功能性自動(dòng)測試系統(tǒng) 主要特色:針對(duì)電池特性優(yōu)化的標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目,測試效能佳特別針對(duì)生產(chǎn)線上使用所需,軟體功能操作簡單彈性架構(gòu)軟體平臺(tái) - 測試程序編輯功能 - 測試報(bào)告格式編輯功能 - 測試報(bào)告產(chǎn)生器 - 統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表編輯功能 - 用戶權(quán)限設(shè)定 - 發(fā)布控制 - 活動(dòng)紀(jì)錄 - 支援 Bar Code Reader因應(yīng)業(yè)界測試需求可擴(kuò)充硬體,BMS通訊介面與增加新測試

    更新時(shí)間:2024-10-26訪問量:953
  • 愛德萬TAS7400advantest TAS7400 成像系統(tǒng)
    advantest TAS7400 成像系統(tǒng)

    advantest TAS7400 成像系統(tǒng) Low-cost, multi-purpose terahertz spectroscopic system to meet diverse applicationsKey FeaturesThe TAS7400 product line offers a series of low-cost, all-purpose spectroscopic

    更新時(shí)間:2024-10-26訪問量:1063
  • 愛德萬TAS7000advantest TAS7000 成像系統(tǒng)
    advantest TAS7000 成像系統(tǒng)

    advantest TAS7000 成像系統(tǒng) 3D Imaging Analysis Systemimg_tas7000_0001TAS7000 3D Imaging Analysis SystemThe TAS7000(?1) 3D(?2) imaging analysis system exploits the unique properties of terahertz waves(?3).

    更新時(shí)間:2024-10-26訪問量:994
  • 愛德萬M4742Aadvantest M4742A 集成電路測試系統(tǒng)
    advantest M4742A 集成電路測試系統(tǒng)

    advantest M4742A 集成電路測試系統(tǒng) 動(dòng)態(tài)測試機(jī)械手img_m4742a_0001 更好的易用性與靈活性由于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的持續(xù)增長和日益復(fù)雜化,半導(dǎo)體產(chǎn)品不斷向不同的*的應(yīng)用域滲透,包括個(gè)人電腦、數(shù)碼設(shè)備、移動(dòng)設(shè)備和車載產(chǎn)品等。為了滿足終端用戶們多種多樣的要求,使他們的產(chǎn)品從競爭中脫穎而出,元器件制造商們不斷的追趕著新的技術(shù)潮流,如今每年都會(huì)誕生超過100種新的IC型式。為了終成功贏

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