Advantest Q8384 光譜分析儀

Advantest Q8384 光譜分析儀可以測量和評估超高速光DWDM傳輸系統(tǒng)和光學(xué)元件在高波長分辨率和精度高。新的gao端光學(xué)頻譜分析儀采用新的四通單色器系統(tǒng)，提供高波長分辨率和寬廣的動態(tài)范圍。

嚴(yán)格的的波長測量要求在DWDM光通信光源。Q8384光學(xué)頻譜分析儀評估這些規(guī)范，

增強(qiáng)的分辨率帶寬，波長精度。最好在世界Q8384達(dá)到10點(diǎn)的波長分辨率，在1550nm波段的波長準(zhǔn)確度達(dá)到20點(diǎn)。

如此高的性能使得它可以為Q8384測量激光二極管的振蕩波長特性的準(zhǔn)確。

DWDM光通信系統(tǒng)中也包含波長分割復(fù)用的

信道間隔為盡可能接近的時(shí)間間隔為50千兆赫（0.4納米）。

在這樣的環(huán)境中具有優(yōu)異的動態(tài)范圍的光學(xué)頻譜分析儀是必需的分開的光信號，并測量光放大器的噪聲系數(shù)（NF）。

0.1 nm時(shí)為50分貝至60分貝0.2納米寬的動態(tài)范圍，因此，充分滿足這些要求。

配備了自動光放大器NF測量和算術(shù)設(shè)施，允許用戶在一個(gè)簡單的方式進(jìn)行測量。

任選具有一個(gè)內(nèi)置的參照波長的光源和一個(gè)EE-LED（邊緣發(fā)射LED）。

如果Q8384與參考光源，儀器校準(zhǔn)保證提供20日下午在1550nm波段的波長精度。使用的EE-LED的寬帶光源，使用戶能夠方便地測量和評價(jià)其傳輸和窄帶光學(xué)濾波器的損耗特性。通過就業(yè)新開發(fā)的單色器系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了波長分辨率帶寬作為highas晚上10點(diǎn)。這使得它可以測量和評價(jià)其邊帶的光信號的強(qiáng)度調(diào)制以10 Gbps，與常規(guī)的頻譜分析儀以前不可能的任務(wù)。

可以測量的精度為±20時(shí)的波長在1530至1570nm的C波段的波長范圍內(nèi)，并在±40點(diǎn)范圍內(nèi)的L波段為一千五百七到1610 nm的范圍內(nèi)后，與內(nèi)置的校準(zhǔn)校準(zhǔn)光源（選件25）。使得按鈕的噪聲系數(shù)測量精度高，可以通過性能增強(qiáng)的動態(tài)范圍，偏振相關(guān)性，電平精度，線性度，波長分辨率設(shè)置精度等，并應(yīng)用曲線擬合等功能?？梢詼?zhǔn)確地確定DWDM信號的時(shí)間間隔為50GHz（0.4納米）或更窄的復(fù)ASE水平，它不僅提供能夠執(zhí)行精確的噪聲系數(shù)測量，而且還能夠顯示多個(gè)測量結(jié)果的清單在同一時(shí)間?？梢燥@示最大為256個(gè)峰值波長的WDM信號的功率電平。它可以顯示從ITU-T的信道間隔，或從一個(gè)參考信號，以及在絕對值偏差的波長和功率電平?？梢跃哂胁煌脑O(shè)置條件在兩個(gè)窗口中顯示兩個(gè)組測量數(shù)據(jù)。這些窗口可擦寫的使用交替掃描功能。通過此功能，用戶可以進(jìn)行詳細(xì)的特定波長帶中的信號的測量，同時(shí)監(jiān)測在整個(gè)波長區(qū)域的WDM系統(tǒng)。支持遠(yuǎn)距離傳輸回路測試，使用一個(gè)外部同步掃描功能。它可以測量非常微弱的信號，令人滿意的，因?yàn)樗哂懈哽`敏度的約-65 dBm。此外，脈沖掃描功能，使得它可以測量所測得的光的峰值。即使脈沖光可以測量不缺少任何部分。支持級聯(lián)顯示多達(dá)32個(gè)跡線，它允許同時(shí)顯示多通道的移動設(shè)備的特性，如從AWG的。允許DWDM系統(tǒng)監(jiān)控。這是可能的連續(xù)監(jiān)測，峰值波長，每個(gè)通道的電平，信噪比波動是否是在其各自的公差。另外，也可以同時(shí)顯示當(dāng)前值相對于初始值，第一通道的值，參考值，以及顯示的絕對值?？梢酝瑫r(shí)顯示的波形的最大值，最小值，電流值，每次測量的重復(fù)掃描。波動范圍的顯示，使用戶可以一看就知道對溫度和極化變化的器件特性的變化。Q8384可以將數(shù)據(jù)存儲在文本和位圖格式，內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)的軟盤驅(qū)動器。