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tektronix 80E04 電接口取樣模塊 技術(shù)方案

更新時(shí)間:2019-06-21      點(diǎn)擊次數(shù):830

tektronix 80E04 電接口取樣模塊 技術(shù)方案?

 

20GHz 2Ch TDR module for CSA8000

80E04模塊主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

高達(dá)70 GHz的帶寬和5 ps的上升時(shí)間 (10 - 90%)

低的分析噪聲 –60 GHz時(shí) 450 μVRMS , 30 GHz時(shí) 300 μVRMS

遠(yuǎn)程取樣器 *1把采樣頭放到DUT附近,保證的信號(hào)保真度

獨(dú)立的取樣器偏移校正功能,保證簡便地反嵌夾具和探頭

雙通道

高精度微波連接器 (3.5 mm, 2.92 mm, 2.4 mm和1.85 mm)

探頭支持

TDR 模塊

15 ps反射真正差分全內(nèi)置TDR上升時(shí)間 (12 ps入射),阻抗分辨率小于1 mm

高達(dá)50 GHz的、準(zhǔn)確、簡便易用、經(jīng)濟(jì)的S參數(shù)測量 

應(yīng)用

串行數(shù)據(jù)應(yīng)用阻抗檢定和S參數(shù)測量

抖動(dòng)、噪聲和BER分析

通道和眼圖仿真和基于測量的Spice模型

高性能TDR/T測量

阻抗特征, 電感, 電容和S參數(shù)測量

傳輸線質(zhì)量, 阻抗和串?dāng)_

真正差分, 共模和單端測量

隔離故障 

電接口取樣模塊

80E10 ? 80E09 ? 80E08 ? 80E07 ? 80E06 ? 80E06X2 ? 80E04 ? 80E03 ? 80E01

主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

所有模塊

高達(dá)70 GHz的帶寬和5 ps的上升時(shí)間 (10 - 90%)

低的分析噪聲 –60 GHz時(shí) 450 μVRMS , 30 GHz時(shí) 300 μVRMS

遠(yuǎn)程取樣器 *1把采樣頭放到DUT附近,保證的信號(hào)保真度

獨(dú)立的取樣器偏移校正功能,保證簡便地反嵌夾具和探頭

雙通道 (80E01和80E06除外)

高精度微波連接器 (3.5 mm, 2.92 mm, 2.4 mm和1.85 mm)

探頭支持 (80E06除外)

TDR 模塊

15 ps反射真正差分全內(nèi)置TDR上升時(shí)間 (12 ps入射),阻抗分辨率小于1 mm

高達(dá)50 GHz的、準(zhǔn)確、簡便易用、經(jīng)濟(jì)的S參數(shù)測量

應(yīng)用

串行數(shù)據(jù)應(yīng)用阻抗檢定和S參數(shù)測量

抖動(dòng)、噪聲和BER分析

通道和眼圖仿真和基于測量的Spice模型

80E10, 80E08 和 80E04

高性能TDR/T測量

阻抗特征, 電感, 電容和S參數(shù)測量

傳輸線質(zhì)量, 阻抗和串?dāng)_

真正差分, 共模和單端測量

隔離故障

80E09, 80E07, 80E06, 80E01

高頻, 低噪聲信號(hào)采集

快速上升時(shí)間測量

抖動(dòng)分析和波形分析

80E03 和 80E02

器件檢定, 傳輸質(zhì)量, 波形參數(shù)

小信號(hào)測量

*1集成在80E07 – 80E10上,80E01 – 80E04和80E06上選裝。

TDR 模塊: 80E10, 80E08 和 80E04

80E10、80E08和80E04是雙通道時(shí)域反射計(jì) (TDR)取樣模塊,在80E10中提供了高達(dá)12 ps的入射上升時(shí)間和15 ps的反射上升時(shí)間 (在80E08中提供了18 ps的入射上升時(shí)間,在80E04中提供了23 ps的入射上升時(shí)間)。這些模塊的每條通道都能夠生成一個(gè)用于TDR模式的快速階躍信號(hào);取樣模塊的采集部分監(jiān)測入射階躍和任何反射的能量。可以獨(dú)立選擇每條通道的階躍極性。除獨(dú)立測試隔離線路外,它還可以對兩條耦合線路執(zhí)行差分或共模TDR或S參數(shù)測試。每條通道獨(dú)立階躍生成功能可以實(shí)現(xiàn)真正差分測量,保證了差分器件的測量準(zhǔn)確性。

80E10和80E08是全面集成的獨(dú)立式小型2米遠(yuǎn)程取樣器系統(tǒng),可以把采樣頭放在DUT附近,保證的信號(hào)保真度。泰克為80E04提供了選裝的2米擴(kuò)展器。這些模塊使用TDR階躍驅(qū)動(dòng)一條線路(或在測量差分串?dāng)_時(shí)驅(qū)動(dòng)線路對),同時(shí)使用另一條通道監(jiān)測第二條線路(或在測量差分串?dāng)_時(shí)使用另一個(gè)模塊),檢定串?dāng)_。8200和8000系列主機(jī)上的“濾波器”功能可以與TDR或串?dāng)_測量一起使用,以較低的邊沿速率檢定預(yù)計(jì)的系統(tǒng)性能。

所有模塊擁有獨(dú)立的入射階躍和接收機(jī)偏移校正功能,消除了測量夾具和探頭的影響,可以更快、更簡便地反嵌測試夾具。80E10 取樣模塊提供了7 ps的采集上升時(shí)間及高達(dá)50 GHz的用戶可選同等帶寬 (50, 40和30 GHz設(shè)置)。80E08的取樣帶寬是30 GHz (用戶可以選擇30和20 GHz設(shè)置),80E04的取樣帶寬是20 GHz。20 GHz P8018單端探頭和18 GHz P80318 差分可變間距TDR探頭提供了杰出的性能和一致性測試功能,保證簡便準(zhǔn)確地測量背板和封裝器件。 

在用戶結(jié)合使用這些模塊及泰克IConnect? TDR和VNA軟件時(shí),可以采集高達(dá)1,000,000的數(shù)據(jù)點(diǎn),獲得高達(dá)50 GHz的差分、混合模式和單端S參數(shù)測量結(jié)果。IConnect還可以進(jìn)行各種串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求的阻抗、S參數(shù)和眼圖一致性測試,及為千兆位互連進(jìn)行全通道分析、Touchstone (SnP)文件輸出和SPICE建模